韦氏环是光的干涉现象，是由于入射光经过透明介质表面折射形成反射光，在不同路程之间形成相位差，而产生的彩色圆环。
具体来说，当入射光射入透明介质时，会发生一定的折射，且折射系数与光的波长有关。在透明介质表面加入一层薄膜，使得反射光线与折射光线相遇时，因为不同光波长的相位差不同，会造成反射光的干涉现象。当反射光线与折射光线之间的相位差为波长的整数倍时，干涉加强，形成彩色条纹。此时在观察目标光源时，可能会看到不同颜色的韦氏环。
韦氏环的大小与从介质到薄膜的距离有关，如果薄膜的厚度是波长的整数倍，则干涉会加强，颜色更加鲜明，如果薄膜的厚度不是波长的整数倍，则会产生相位差，导致条纹相消，形成暗区。因此，利用韦氏环的特性可以测量介质的厚度。
