韦氏环是指在光学显微镜下观察到的一种由光的干涉所产生的圆形或环形的光暗条纹现象。当两束光束在载物表面相交时，由于载物表面或载物和载玻璃之间存在着微小的厚度差异，光的波长的特性使得干涉现象产生。这种干涉现象在显微镜下形成了一系列明暗相间的圆环或环带，称之为韦氏环。
韦氏环的形成原理是由于干涉光的相位差引起的，而相位差又和待测物体的厚度以及入射光的波长有关。当载物表面存在厚度差异时，入射的光线在不同位置产生不同程度的相位差，进而形成明暗相间的圆环。由此可见，韦氏环不仅可以用于观察物体的形态和厚度变化，还可以用于材料表面质量的检测和光学元件特性的测量。
韦氏环是一种由光的干涉引起的圆环或环带现象，可以通过显微镜观察到。它的形成原理是光的相位差与材料厚度和入射光波长有关。韦氏环广泛应用于光学显微镜中，为科学研究和工程实践提供了重要的参考依据。
