小儿高热惊厥可能影响神经系统发育、诱发癫痫、导致脑损伤、增加反复发作风险。
1、神经系统发育高热惊厥发作时脑细胞异常放电，可能干扰神经突触形成，建议家长在发作后定期进行发育评估。
2、癫痫风险复杂型高热惊厥患儿未来患癫痫概率升高，与海马体损伤有关，需通过脑电图监测排查异常放电。
3、脑损伤持续超过15分钟的惊厥可能导致缺氧性脑病，表现为记忆力减退或学习障碍，急性期需及时静脉注射地西泮控制发作。
4、反复发作首次发作年龄小于12个月或家族史阳性者复发率达50％，家长需掌握直肠给药等应急处理技能。
建议发作期间保持侧卧位防止窒息，退热期补充电解质水，恢复后定期复查脑电图与神经系统检查。
